E+H音叉物位計FTM51-2GG2L2A32AA技術參數
物位測量通常指對工業生產過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進行檢測，如果是對物料高度進行連續的檢測，稱為連續測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫做物位計。物位測量通常指對工業生產過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進行檢測，如果是對物料高度進行連續的檢測，稱為連續測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫做物位計。物位測量通常指對工業生產過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進行檢測，如果是對物料高度進行連續的檢測，稱為連續測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫做物位計。
對于常用的圓錐形喇叭天線來說，微波的頻率越高，波束的聚焦性能越好，即波束角小，在實際使用中這是十分重要的，低頻微波物位計有較寬的波束，如果安裝不得當，將會收到內部結構產生的較多的虛假回波，例如：采用4"喇叭天線的26GHz雷達的典型波束角為8°，而5.8GHz 的典型波束角為17°。并且，微波的頻率越高，其喇叭尺寸也可以做的越小，更易于開孔安裝。還沒有頻率高于K波段(24—26GHz)的微波(雷達)物位計。
而X波段雷達由于沒有明顯的應用特點，而在各大物位廠商的雷大物位技術發展中趨于被淘汰。現今物位測量領域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用于50/100米以內的充滿粉塵和擾動的加料狀態下的料倉。相關技術的儀表例如電容或導波雷達TDR在放料時物位下降時會受到很強的張力負載，可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經常有埋錘的問題，需要經常維修，大多數其他機械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量系統的能力。 高頻的調頻雷達技術尤其適合這種大型固體料倉的物位測量!
微波物位計使用的微波頻率有三個頻段：C波段(5.8～6.3GHz)、X波段(9～10.5GHz)、K波段(24～26GHz)。制造商根據自己的技術及國家批準的頻率來設計產品。
物位測量中的微波一般是定向發射的，通常用波束角來定量表示微波發射和接收的方向性。波束角和天線類型有關，也和使用的微波頻率(波長)有關。
現今的高頻雷達一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達物位計，雷達的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達使用更小的天線。而FMCW調頻連續波微波物位計發射和接受信號是同時的，相同時間內發射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現象。因此固體測量中高頻的調頻雷達能提供準確、可靠的測量，并在例如化工行業中的PP粉末、PE粉末等介質中也有良好應用。但由于技術限制，現今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達物位計。現今的高頻雷達一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達物位計，雷達的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達使用更小的天線。而FMCW調頻連續波微波物位計發射和接受信號是同時的，相同時間內發射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現象。因此固體測量中高頻的調頻雷達能提供準確、可靠的測量，并在例如化工行業中的PP粉末、PE粉末等介質中也有良好應用。但由于技術限制，現今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達物位計。
ATOS比例閥DLHZO-T-040-L7131
E+H音叉物位計FTM51-2GG2L2A32AA
赫斯曼交換機RS20-0800T1T1SDAUHC
PARKER派克濾芯944503Q
PARKER派克濾芯936718Q
PARKER派克濾芯937853Q
ATOS比例閥RZMO-P1E-010/315/1
ATOS換向閥RZGA-A-010/100/M/24
SUN換向閥CVGV-XCN
SUN換向閥DRAX-LAN 
SUN換向閥LOFD-XDN
SUN換向閥RDFA-LCN 
Hankison漢克森過濾器 HF7-16-4DPL
力士樂柱塞泵A10VS045 DFR1/31R-VPA12N00
PLANETROIL聯軸器PD120-GAC070-1AA1